標題:
ddr2和ddr的差異
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作者:
danny
時間:
2009-2-4 16:57
標題:
ddr2和ddr的差異
何謂CL值:CAS latency是指對DRAM晶片上某一行下達要求所需要的時間,Latency是計算延遲的單位,所以 “CL2” CAS latency系數指延遲兩個時鐘週期,而 “CL3” latency系數指延遲三個時鐘週期。CL值越小越好,製造CAS latency系數低於CL2的晶片目前很困難,但是CL2.5,CL3是有差異的.
DDR速度的差異:SDRAM 和 DDR 的分別在於 DDR 可於時脈週期的上升與下降傳輸資料。DDR也可以稱作 PC1600 (200Mhz), PC2100 (266Mhz) 及 PC2700 (333Mhz), 這是針對可能達到的最大頻寬而言。
SDRAM
DDR SDRAM
以 DDR SDRAM 的缺點而言,最主要的有下列幾點:
1. 實際執行效能非兩倍於 SDRAM
2. 工作頻率不易再提升
3. 無法達到 Balanced System 的目標
也因此記憶體新技術的開發將在所難免。
DDR
終將被取代
被視為是目前
DDR
記憶體標準革命性替代品,
DDR2
打破了
DDR
的頻率限制
(DDR 400
,
200MHz
時脈頻率
)
,具有高頻寬可用性、容納更多晶片陣列及更低秏電量的特色。
隨著主時脈速度不斷地進展,甫問世的
DDR2
必須確保
CPU
和記憶體之間的傳輸更為有效。目前為止,
DDR2
的代表性產品為
DDR2 400/533
,分別在
200/266 MHz
時脈速度下運作。雖然
DDR2
的頻率是接在
DDR
之後開始
(200MHz)
,未來
DDR2
的可用性無疑將會把
DDR
遠遠抛在後面。
DDR
及
DDRII
頻寬表
I
DDR2 667
及
DDR2 800
分別於
2005
及
2006
年才會問世。
強烈建議在雙通道模式中使用相同匯流排頻寬及密度。
"
相同密度
"
意指通道
1
的總密度,必須要等
於通道
2
的總密度。
記憶體發展時程表
DDRII
好處
DDR2
晶片使用
FBGA (
細密球型網陣列
)
技術封裝,確保晶片擁有更高的容量、較小的尺寸及較低的溫度。此外,
DDR2
耗電量已經從
2.5V
降到
1.8V
,能夠增加特別是可攜式裝置的電池壽命。
DDR
及
DDRII
比較
由上表可知,記憶體的工作電壓由先前 SDRAM 的 3.3V 到 DDR SDRAM 的 2.5V 演進到 DDR2 SDRAM 的 1.8V。接腳數也由先前的 184pin 增加到 240pin,此外也新增 OCD、ODT、Posted CAS 等技術,下面將會從外觀以及技術架構等層面一一介紹。
在外觀部分,由下圖可知 DDR2 SDRAM 的防呆缺口明顯的與 DDR SDRAM 不同。這是因為 DDR2 的工作電壓為 1.8V,為了與現行工作電壓 2.5V 的 DDR 記憶體有所區隔,也因此在防呆缺口方面會有所不同。而在接腳方面 DDR2 也比 DDR 來得多且密集。
接著再來看插槽外觀。由下圖,很明顯的可以看到 DDR2 的防呆缺口比 DDR 較左邊,另外在插槽上的防呆缺口也標示著此 DIMM 支援的電壓。
資料來源:台北縣立三重中學電算中心網站
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